Automobilinis grandinių tikrintuvas ir ieškiklis (rinkinys su TFT ekranu, 8–35 VDC / 0–65 VDC)

Automobilinis grandinių tikrintuvas ir ieškiklis (rinkinys su TFT ekranu, 8–35 VDC / 0–65 VDC)

Ieškote profesionalaus, visapusiško ir pažangaus įrankio automobilio elektros instaliacijai diagnozuoti? Šis universalus grandinių testerio ir trumpųjų jungimų detektoriaus rinkinys su spalvotu TFT ekranu leidžia greitai ir tiksliai nustatyti gedimus.

• Pažangi diagnostika 2 viename: Sujungia galingą maitinimo grandinės zondą (power circuit probe) ir trumpojo bei atvirojo jungimo detektorių (Short and Open Circuit Detector).

• Spalvotas TFT ekranas: Aiškiai rodo įtampos vertes, veikimo režimus ir kitus svarbius parametrus patogiame ekrane.

• Platus įtampos diapazonas: Siųstuvas palaiko 8–35 VDC maitinimą, o matavimo įtampa siekia nuo 0 iki 65 VDC, kas puikiai tinka lengviesiems automobiliams ir sunkvežimiams.

• Gausus priedų rinkinys: Komplekte yra prailginimo kabelis, cigarečių degiklio adapteris, akumuliatoriaus gnybtai, zondai, laidų rinkiniai ir tvirtas plastikinis dėklas.

Techninės specifikacijos:

• Modelio numeris / komponentai: Imtuvas (Receiver): SVM10R, Siųstuvas (Transmitter): SVM10T

• Tipas: Automobilinis grandinių tikrintuvas / Zondas su kabelių sekikliu (Automotive Circuit Tester Kit / Power Probe & Cable Tracer)

• Spalva: Oranžinė (Orange)

• Siųstuvo maitinimas: 8 – 35 VDC

• Imtuvo maitinimas: 9V baterija

• Testuojama / matuojama įtampa: 0 – 65 VDC (maksimaliai išmatuojama įtampa: 65V)

• Ekranas: Spalvotas TFT ekranas (TFT Color Screen)

• Korpuso medžiaga: ABS plastikas

• Testerio matmenys: 200 x 53 x 34 mm (7.87 x 2.1 x 1.34 colio)

• Imtuvo matmenys: 350 x 53 x 26 mm (13.8 x 2.1 x 1.02 colio)

• Grynasis svoris: 1.79 kg (3.95 lbs)

• Komplektacija: Grandinės zondas-testeris, trumpojo/atvirojo jungimo detektorius, vartotojo vadovas, cigarečių degiklio adapteris, akumuliatoriaus gnybtų kabelis, zondas, prailginimo kabelis, testavimo zondų rinkinys, plastikinis dėklas

• Paskirtis: Automobilių elektros sistemų diagnostikai, trumpųjų jungimų ir nutrūkusių grandinių paieškai